DOI:
Автор:
Зайцев Р.В., Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут», м. Харків, Україна
Кіріченко М.В., Національний технічний університет «Харківський політехнічний інститут», м. Харків, Україна
Мова статті: російська
Анотація:
Основним методом визначення параметрів напівпровідникових приладів є метод вимірювання та аналітичного опрацювання їх вольтамперних характеристик (ВАХ). Наявні нині вимірювальні комплекси для реалізації цього методу являють собою коштовні та складні системи, використання яких в умовах вітчизняної промисловості є економічно не вигідним. У роботі розроблено економічний автоматизований вимірювальний комплекс ВАХ на основі мікроконтролерної системи керування із відповідним програмним забезпеченням, що дозволяє у зв’язці із персональним комп’ютером проводити експресну атестацію фотоелектричних перетворювачів та напівпровідникових приладів за їх вольтамперними характеристиками. Апробація комплексу продемонструвала його здатність проводити вимірювання ВАХ з достатньо високою точністю при середній похибці виміру не більше 1 %.
Ключові слова:
напівпровідниковий прилад, вольтамперна характеристика, автоматизація вимірювань, мікроконтролер
Використана література:
1. Mostafa G. Development of an 8-bit RISC microcontroller learning kit using Atmel ATmega32 architecture // Advances in Electrical Engineering (ICAEE), 2013, International Conference on 19–21 Dec. 2013. – P. 154–159.
2. Wei Zhang, LinYi The design of ATmega32 MCU SPI and MAX191 serial A/D communication // Business Management and Electronic Information (BMEI), 2011 International Conference on 13–15 May 2011 (Volume 2). – P. 526–528.
3. Zhu Zhengwei, Zhao Huihui, Shen Lin Design of Multi-machine Communication System Based on TWI // Electrical and Control Engineering (ICECE), 2010 International Conference on 25–27 June 2010. – P. 3590–3593.
4. Joseph Yiu. The Definitive Guide to ARM® Cortex®-M3 and Cortex®-M4 Processors, Third Edition / Burlington : Elsevier, 2007.
5. Jonathan W. Valvano Embedded Systems: Real-Time Interfacing to the Arm Cortex-M Microcontrollers // CreateSpace Independent Publishing Platform, 2011.
6. Патент України на корисну модель № 94622. Світлодіодно-галогеновий освітлювач. – Зареєстровано в Державному реєстрі патентів України на корисні моделі 25.11.2014 р.
7. Chin M., Kilpatrick S., Osgood R. Metal-Insulator-Metal Diode Process Development for Energy Harvesting Applications / Army Research Laboratory, Annual Report. – 2010. – 24 p.
8. Lee. K.-J., Kim J.-H., Kim H.-S. et al. Study on a Solar Simulator for Dye Sensitized Solar Cells // International Journal of Photoenergy. – 2012. – Vol. 12. – P. 1–11.
9. Pravettoni M., Galleano R., Dunlop E. et al. Characterization of a pulsed solar simulator for concentrator photovoltaic cell calibration / Measurement science and technology. – 2010. – Vol. 21. – P. 1–8.
10. Emery K. Measurement and characterization of solar cells and modules // Handbook of photovoltaic science and engineering / Ed. by A. Luque and S. Hegedus. – Chichester : John Wiley & Sons, Ltd., 2003. – P. 702–752.
11. Колтун М. М. Солнечные элементы / М. М. Колтун. – М. : Наука, 1987. – 210 с.